Probing Nanomaterial Properties in a High-resolution Transmission Electron Microscope

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Probing Nanomaterial Properties in a High-resolution Transmission Electron Microscope
• 著者・編者: Zhang, Chao; 張, 超
• 出版年月日等: 2017
• 出版年（W3CDTF）: 2017
• 並列タイトル等: 高分解能透過型電子顕微鏡内でのナノ材料特性測定
• 授与機関名: 筑波大学 (University of Tsukuba)
• 授与年月日: 2017-03-24
• 授与年月日（W3CDTF）: 2017-03-24
• 報告番号: 甲第8060号
• 学位: 博士（工学） / Doctor of Philosophy in Engineering
• 博論授与番号: 甲第8060号
• 本文の言語コード: eng
• 一般注記: 2016
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/10981750; https://dl.ndl.go.jp/pid/10981750
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• 収集根拠: 博士論文（自動収集）
• 受理日（W3CDTF）: 2017-11-03T04:45:49+09:00
• 作成日（W3CDTF）: 2017-09-15
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 掲載誌（URI）: http://hdl.handle.net/2241/00148234
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp