ニューラルネットワークを用いた自動検査法

• 資料種別: 記事
• タイトル: ニューラルネットワークを用いた自動検査法
• 著者・編者: 池田和隆; 橋本良仁; 芝山達哉
• 出版事項: 日本 : パナソニック
• 出版年月日等: 2008-09
• 出版年（W3CDTF）: 2008-09
• 並列タイトル等: Automatic inspection method based on neural network
• タイトル（掲載誌）: 松下電工技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: 56(3)
• 掲載巻: 56(3)
• 本文の言語コード: jpn
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11013389; https://dl.ndl.go.jp/pid/11013389
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
• 収集根拠: インターネット資料収集保存事業（WARP）
• 受理日（W3CDTF）: 2018-01-10T20:06:13+09:00
• 保存日（W3CDTF）: 2013-02-07
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（URI）: https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/8200216/panasonic.co.jp/ptj/pew/563j/index.html
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11013385; https://dl.ndl.go.jp/pid/11013385
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp