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巻号10 (4)
A cost-awa...

A cost-aware test suite minimization approach using TAP measure and greedy search algorithm

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A cost-aware test suite minimization approach using TAP measure and greedy search algorithm

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11065377
資料種別
記事
著者
Shounak Rushikesh Sugaveほか
出版者
The Intelligent Networks and Systems Society
出版年
2017-08-31
資料形態
デジタル
掲載誌名
International journal of intelligent engineering and systems 10(4)
掲載ページ
-
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Shounak Rushikesh Sugave
Suhas Haribhau Patil
B. Eswara Reddy
出版年月日等
2017-08-31
出版年(W3CDTF)
2017-08-31
タイトル(掲載誌)
International journal of intelligent engineering and systems
巻号年月日等(掲載誌)
10(4)
掲載巻
10(4)
ISSN(掲載誌)
2185-3118