209 アルミナ基板にろう接されたシリコンチップのX線応力測定
インターネットで読む
すぐに読む
国立国会図書館デジタルコレクション
書誌情報
この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 藤井,信之乾,勝典小崎,茂
- 出版事項
- 出版年月日等
- 1997-09-10
- 出版年（W3CDTF）
- 1997-09-10
- 並列タイトル等
- X-ray stress measurement for silicon chips brazed on an alumina boad
- タイトル（掲載誌）
- 溶接学会全国大会講演概要
- 巻号年月日等（掲載誌）
- (61)
- 掲載巻
- (61)