Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices
• 著者・編者: Peter, SARSON
• 著者標目: Peter, SARSON
• 出版事項: 群馬大学大学院理工学府
• 出版年月日等: 2018-11-30
• 出版年（W3CDTF）: 2018-11-30
• 並列タイトル等: アナログ/ミクスト信号集積回路テスト技術の開発 – 半導体デバイスのテストでの品質・信頼性向上とコスト低減
• 授与機関名: 群馬大学
• 授与年月日: 2018-11-30
• 授与年月日（W3CDTF）: 2018-11-30
• 報告番号: 乙第11号
• 学位: 博士（理工学）
• 博論授与番号: 乙第11号
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: LSI Test; LSI試験; Semiconductor; 半導体; Analog Circuit; アナログ回路; Mixed-Signal IC; ミックスト信号集積回路
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: type:Thesis or Dissertation; 学位記番号：理工博乙11号
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11217362; https://dl.ndl.go.jp/pid/11217362
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• 収集根拠: 博士論文（自動収集）
• 受理日（W3CDTF）: 2019-01-04T08:16:43+09:00
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 掲載誌（URI）: http://hdl.handle.net/10087/12326
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

2023-04-26 再収集

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