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電子書籍・電子雑誌液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho
巻号12 (3)
精密熱測定・誘電測定...

精密熱測定・誘電測定からみたde VriesスメクチックA-C相転移の臨界挙動

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精密熱測定・誘電測定からみたde VriesスメクチックA-C相転移の臨界挙動

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11257347
資料種別
記事
著者
江間健司ほか
出版者
日本液晶学会
出版年
2008-07-25
資料形態
デジタル
掲載誌名
液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho 12(3)
掲載ページ
-
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
江間健司
八尾晴彦
出版年月日等
2008-07-25
出版年(W3CDTF)
2008-07-25
並列タイトル等
Critical behavior of de Vries smectic A-C phase transition studied by high-resolution calorimetric and dielectric measurements
タイトル(掲載誌)
液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho
巻号年月日等(掲載誌)
12(3)
掲載巻
12(3)