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Manufacturing industry DX through deep learning application technologies : from non-destructive testing to quality control
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国立国会図書館デジタルコレクション
デジタルデータあり（Fujitsu）
書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- Hiroya InakoshiYusuke HidaAhmed Al-Jarro
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2020-05-15
- 出版年（W3CDTF）
- 2020-05-15
- タイトル（掲載誌）
- Fujitsu technical review
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 2020年(2)
- 掲載巻
- 2020年(2)
- ISSN（掲載誌）
- 2435-6662