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巻号(51)
電気的特性によるEr...

電気的特性によるEr,Sm薄膜/4H-SiC(0001)接触界面に関する研究

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電気的特性によるEr,Sm薄膜/4H-SiC(0001)接触界面に関する研究

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/12974376
資料種別
記事
著者
保坂直寿ほか
出版者
国立高等専門学校機構秋田工業高等専門学校
出版年
2016-02
資料形態
デジタル
掲載誌名
秋田工業高等専門学校研究紀要 (51)
掲載ページ
-
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
保坂直寿
浅野清光
出版年月日等
2016-02
出版年(W3CDTF)
2016-02
並列タイトル等
Interface properties of Er, Sm Thin films/4H-SiC (0001) contacts by electrical measurements
タイトル(掲載誌)
秋田工業高等専門学校研究紀要
巻号年月日等(掲載誌)
(51)
掲載巻
(51)
本文の言語コード
jpn
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/12974376
コレクション(共通)
コレクション(障害者向け資料:レベル1)
コレクション(個別)
国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
収集根拠
インターネット資料収集保存事業(WARP)
受理日(W3CDTF)
2023-08-22T10:29:51+09:00
保存日(W3CDTF)
2022-07-10
記録形式(IMT)
application/pdf
オンライン閲覧公開範囲
国立国会図書館内限定公開
デジタル化資料送信
図書館・個人送信対象外
遠隔複写可否(NDL)
不可
利用に関する注記
本資料は、印刷できません。
掲載誌(国立国会図書館永続的識別子)
info:ndljp/pid/12974373
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション