電試ニュース(169)

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: 電試ニュース
• タイトルよみ: デンシ ニュース
• 巻次・部編番号: (169)
• 著者・編者: 工業技術院電気試験所 編
• 著者標目: 工業技術院電気試験所 コウギョウ ギジュツイン デンキ シケンジョ ( 00777680 )典拠
• 出版事項: 東京 : 工業技術院電気試験所
• 出版年月日等: 1964-02
• 出版年（W3CDTF）: 1964-02
• 刊行巻次・年月次: 1号 (1950年1月)-245号 (1970年6月)
• 大きさ: 26cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: ZN31
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; 「電気試験所彙報」と合冊刊行
• DOI: 10.11501/2317989; https://doi.org/10.11501/2317989
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/2317989; https://dl.ndl.go.jp/pid/2317989
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2011-03-31
• 受理日（W3CDTF）: 2011-06-29T18:36:37+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: 1号 (1950年1月)-245号 (1970年6月)
• 請求記号: Z16-185
• 原資料（JPNO）: 00015929
• 関連情報（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/2384185; https://dl.ndl.go.jp/pid/2384185
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/2384132; https://dl.ndl.go.jp/pid/2384132
• 改題後（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/3381216; https://dl.ndl.go.jp/pid/3381216
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

パターン認識

GaAs接合レーザーの追試実験成功

NAND回路試験装置

NRC留学から帰って

NRCの測色の研究