Analysis and Simulation of Bridging Fault Behaviors in Testing of CMOS Integrated Circuits

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Analysis and Simulation of Bridging Fault Behaviors in Testing of CMOS Integrated Circuits
• 著者・編者: Arabi Elsayed Ibrahim Keshk [著]
• 著者標目: Keshk, Arabi Elsayed Ibrahim ケシュク, アラビ エルサイド イブラヒム
• 出版事項: [Arabi Elsayed Ibrahim Keshk]
• 出版年月日等: 2000
• 出版年（W3CDTF）: 2000
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: CMOS集積回路のテストにおけるブリッジ故障動作の解析とシミュレーション CMOS シュウセキ カイロ ノ テスト ニ オケル ブリッジ コショウ ドウサ ノ カイセキ ト シミュレーション
• 授与機関名: 大阪大学
• 授与年月日: 平成13年3月23日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2001
• 報告番号: 甲第7985号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2001-G328
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000402483; http://id.ndl.go.jp/bib/000000402483
• 整理区分コード: 213

目次

Abstract

Contents

Chapter 1:Introduction

Chapter 2:Preliminary

2.1 Introduction