Development of stacked CMOS active pixel sensor (SCAPS) for two-dimensional isotope analysis : Restoration method from nonlinear output of SCAPS

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Development of stacked CMOS active pixel sensor (SCAPS) for two-dimensional isotope analysis : Restoration method from nonlinear output of SCAPS
• 著者・編者: 永島一秀 [著]
• 著者標目: 永島, 一秀 ナガシマ, カズヒデ
• 出版事項: [永島一秀]
• 出版年月日等: [2001]
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: 二次元同位体分析に向けた積層型半導体素子の開発と、入出力非線形性補正法の確立 ニジゲン ドウイタイ ブンセキ ニ ムケタ セキソウガタ ハンドウタイ ソシ ノ カイハツ ト ニュウシュツリョク ヒセンケイセイ ホセイホウ ノ カクリツ
• 授与機関名: 東京工業大学
• 授与年月日: 平成13年3月26日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2001
• 報告番号: 甲第4626号
• 学位: 博士 (理学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2001-S113
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000415427; http://id.ndl.go.jp/bib/000000415427
• 整理区分コード: 213

目次

論文目録

ABSTRACT

Contents

1.INTRODUCTION

2.SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY(SIMS)