Readout : Horiba technical reports(2)

• 資料種別: 雑誌
• タイトル: Readout : Horiba technical reports
• 巻次・部編番号: (2)
• 著者標目: 堀場製作所 ホリバ セイサクジョ ( 00283160 )典拠
• 出版事項: 京都 : 堀場製作所
• 出版年月日等: 1991-01
• 出版年（W3CDTF）: 1991-01
• 刊行巻次・年月次: No. 1 (July 1990)-
• 大きさ: 30cm
• ISSN（掲載誌）: 0915-9916
• ISSN-L（掲載誌）: 0915-9916
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn; eng
• NDLC: ZM15
• 一般注記: 本タイトル等は最新号による; No. 38からno. 39までは「Readout」 (English ed.) として刊行; 「バックナンバー掲載記事」あり; 増刊号あり
• 総目次・総索引注記: 総目次・総索引あり
• DOI: 10.11501/3298508; https://doi.org/10.11501/3298508
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/3298508; https://dl.ndl.go.jp/pid/3298508
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• 製作者: 国立国会図書館
• 製作年（W3CDTF）: 2011-03-31
• 受理日（W3CDTF）: 2012-01-27T19:10:01+09:00
• 記録形式（IMT）: image/jp2
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 所蔵巻次・年月次（所蔵事項）: No. 1 (July 1990)-; No. 38からno. 39までは「Readout」 (English ed.) にあり
• 請求記号: Z14-1710
• 原資料（JPNO）: 00080822
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/3380927; https://dl.ndl.go.jp/pid/3380927
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

目次

巻頭言 オリジナリテイーと多様化に挑む

特別寄稿 先端技術におげる光

総説 Grobal R&D

特集論文 ICTS/DLTS法による半導体中不純物・欠陥評価

時間分解フォトルミネッセンス法による半導体デバイスの評価