フィールドにおけるテスト印加と低電力論理BISTに関する研究

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: フィールドにおけるテスト印加と低電力論理BISTに関する研究
• 著者・編者: 王, 森レイ
• 著者標目: 王, 森レイ
• 出版年月日等: 2014-03-25
• 出版年（W3CDTF）: 2014-03-25
• 並列タイトル等: Studies on Test Application at Field Test and Low Power Logic-BIST
• 寄与者: 梶原, 誠司
• 授与機関名: 九州工業大学
• 授与年月日: 2014-03-25
• 授与年月日（W3CDTF）: 2014-03-25
• 報告番号: 甲第289号
• 学位: 博士（情報工学）
• 博論授与番号: 甲情工第289号
• 本文の言語コード: eng
• 著者別名: 王, 森レイ
• 件名標目: Aging; Field-test; Rotating test; Low-power; Multi-cycle test; Scan-out power
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 九州工業大学博士学位論文 学位記番号:情工博甲第289号 学位授与年月日:平成26年3月25日; 平成25年度
• DOI: 10.18997/00004050; https://doi.org/10.18997/00004050
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/8950713; https://dl.ndl.go.jp/pid/8950713
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• 収集根拠: 博士論文（自動収集）
• 公開開始日（W3CDTF）: 2015-03-03
• 受理日（W3CDTF）: 2015-02-03T05:25:05+09:00
• 作成日（W3CDTF）: 2017-03-02
• 記録形式（IMT）: PDF; application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 掲載誌（URI）: https://doi.org/10.18997/00004050; http://hdl.handle.net/10228/5266
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• 要約等: Advances in semiconductor process technology have resulted in various aging issues in field operation of Very Large Scale Integration (VLSI) circuits....

目次

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