SIMPLE METHOD FOR ESTIMATING THE THICKNESS AND COMPOSITION OF SURFACE FILMS IN THE ELECTRON PROBE X-RAY MICROANALYSER (AERE ; AERE-R-7158)

SIMPLE METHOD FOR ESTIMATING THE THICKNESS AND COMPOSITION OF SURFACE FILMS IN THE ELECTRON PROBE X-RAY MICROANALYSER

(AERE ; AERE-R-7158)

出版者: Atomic Energy Research Establishment(Atomic Energy Research Establishment)

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資料種別: 図書
タイトル: SIMPLE METHOD FOR ESTIMATING THE THICKNESS AND COMPOSITION OF SURFACE FILMS IN THE ELECTRON PROBE X-RAY MICROANALYSER
著者・編者: Bishop, H.E.
シリーズタイトル: AERE ; AERE-R-7158
著者標目: Bishop, H.E.
出版事項: Atomic Energy Research Establishment(Atomic Energy Research Establishment)
出版年月日等: 1972.
出版年（W3CDTF）: 1972
出版地（国名コード）: uk
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/