ONE-SIDED INFRARED THERMAL IMAGING FOR FLAW CHARACTERIZATION OF CERAMIC MATRIX COMPOSITES (ANL ; ANL/ET/CP-101896)

ONE-SIDED INFRARED THERMAL IMAGING FOR FLAW CHARACTERIZATION OF CERAMIC MATRIX COMPOSITES

(ANL ; ANL/ET/CP-101896)

著者: C. DEEMER// ET AL. (ARGONNE NATIONAL LABORATORY (ANL), ARGONNE, IL (UNITED STATES))

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資料種別: 図書
タイトル: ONE-SIDED INFRARED THERMAL IMAGING FOR FLAW CHARACTERIZATION OF CERAMIC MATRIX COMPOSITES
著者・編者: C. DEEMER// ET AL. (ARGONNE NATIONAL LABORATORY (ANL), ARGONNE, IL (UNITED STATES))
シリーズタイトル: ANL ; ANL/ET/CP-101896
著者標目: C. DEEMER.
出版事項: Argonne National Laboratory(Argonne National Laboratory)
出版年月日等: 2000.
出版年（W3CDTF）: 2000
数量: 9
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/