X-RAY DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF DEFECT BEHAVIOR IN NANOCRYSTALLINE NICKEL DURING ANNEALING (ANL ; ANL/MSD/CP-82603)

X-RAY DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF DEFECT BEHAVIOR IN NANOCRYSTALLINE NICKEL DURING ANNEALING

(ANL ; ANL/MSD/CP-82603)

著者: EASTMAN, J.A.// BENO, M.A.// KNAPP, G.S.// THOMPSON, L.J. (ARGONNE NATIONAL LAB., IL (UNITED STATES). MATERIALS SCIENCE DIV.)

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資料種別: 図書
タイトル: X-RAY DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF DEFECT BEHAVIOR IN NANOCRYSTALLINE NICKEL DURING ANNEALING
著者・編者: EASTMAN, J.A.// BENO, M.A.// KNAPP, G.S.// THOMPSON, L.J. (ARGONNE NATIONAL LAB., IL (UNITED STATES). MATERIALS SCIENCE DIV.)
シリーズタイトル: ANL ; ANL/MSD/CP-82603
著者標目: EASTMAN, J.A.
BENO, M.A.
KNAPP, G.S.
THOMPSON, L.J.
出版事項: Argonne National Laboratory(Argonne National Laboratory)
出版年月日等: 1994.
出版年（W3CDTF）: 1994
数量: 5
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/