IONIZING RADIATION EFFECTS ON SILICON TEST STRUCTURES (BNL ; BNL-49823)

IONIZING RADIATION EFFECTS ON SILICON TEST STRUCTURES

(BNL ; BNL-49823)

著者: KRANER, H.W.// BEUTTENMULLER, R.// CHEN, W.// KIERSTEAD, J.A.// LI, Z.// ZHANG, Y.// DOU, L.// FRETWURST, E.// LINDSTROEM, G. (BROOKHAVEN NATIONAL LAB., UPTON, NY (UNITED STATES))

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資料種別: 図書
タイトル: IONIZING RADIATION EFFECTS ON SILICON TEST STRUCTURES
著者・編者: KRANER, H.W.// BEUTTENMULLER, R.// CHEN, W.// KIERSTEAD, J.A.// LI, Z.// ZHANG, Y.// DOU, L.// FRETWURST, E.// LINDSTROEM, G. (BROOKHAVEN NATIONAL LAB., UPTON, NY (UNITED STATES))
シリーズタイトル: BNL ; BNL-49823
著者標目: KRANER, H.W.
BEUTTENMULLER, R.
CHEN, W.
KIERSTEAD, J.A.
LI, Z.
ZHANG, Y.
DOU, L.
FRETWURST, E.
LINDSTROEM, G.
出版事項: Brookhaven National Laboratory(Brookhaven National Laboratory)
出版年月日等: 1993.
出版年（W3CDTF）: 1993
数量: 18
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/