STUDY OF BULK DAMAGE IN HIGH RESISTIVITY SILICON DETECTORS IRRADIATED BY HIGH DOSE OF (SUP 60)CO (GAMMA)-RADIATION (BNL ; BNL-63019; DE96011030)

STUDY OF BULK DAMAGE IN HIGH RESISTIVITY SILICON DETECTORS IRRADIATED BY HIGH DOSE OF (SUP 60)CO (GAMMA)-RADIATION

(BNL ; BNL-63019; DE96011030)

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資料種別: 図書
タイトル: STUDY OF BULK DAMAGE IN HIGH RESISTIVITY SILICON DETECTORS IRRADIATED BY HIGH DOSE OF (SUP 60)CO (GAMMA)-RADIATION
著者・編者: Z. LI//ET AL. (BROOKHAVEN NATIONAL LAB., UPTON, NY (UNITED STATES).)
シリーズタイトル: BNL ; BNL-63019; DE96011030
著者標目: Z. LI.
出版事項: Brookhaven National Laboratory(Brookhaven National Laboratory)
出版年月日等: 1996.
出版年（W3CDTF）: 1996
数量: 4
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/