METHODS FOR MEASURING AND CHARACTERIZING TRANSISTOR AND DIODE LARGE SIGNAL PARAMETERS FOR USE IN AUTOMATIC CIRCUIT ANALYSIS PROGRAMS (CONF ; CONF-650707-3)

METHODS FOR MEASURING AND CHARACTERIZING TRANSISTOR AND DIODE LARGE SIGNAL PARAMETERS FOR USE IN AUTOMATIC CIRCUIT ANALYSIS PROGRAMS

(CONF ; CONF-650707-3)

資料種別: 図書

著者: Sullivan, W. H.ほか

出版者: Sandia Corp., Albuquerque, N. MEX.

出版年: 1965.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: -

NDC: -

すべて見る

書店で探す

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

連携機関・データベースの一覧

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
紙
日本原子力研究開発機構所蔵目録データベースのサイトでこの本を確認

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

紙

資料種別: 図書
タイトル: METHODS FOR MEASURING AND CHARACTERIZING TRANSISTOR AND DIODE LARGE SIGNAL PARAMETERS FOR USE IN AUTOMATIC CIRCUIT ANALYSIS PROGRAMS
シリーズタイトル: CONF ; CONF-650707-3
著者標目: Sullivan, W. H.
Wirth, J. L.
出版事項: Sandia Corp., Albuquerque, N. MEX.
出版年月日等: 1965.
出版年（W3CDTF）: 1965
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/