Inlet window for detection equipment with semiconductor detector (CZ PATENT APPLICATION ; CZ PATENT APPLICATION PV 8488-88.I)

Inlet window for detection equipment with semiconductor detector

(CZ PATENT APPLICATION ; CZ PATENT APPLICATION PV 8488-88.I)

出版者: Los Alamos National Lab., NM (United States); Oak Ridge National Lab., TN (United States). Funding organisation: USDOE, Washington, DC (United States)(Los Alamos National Lab., NM (United States); Oak Ridge National Lab., TN (United States). Funding organisation: USDOE, Washington, DC (United States))

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資料種別: 図書
タイトル: Inlet window for detection equipment with semiconductor detector
シリーズタイトル: CZ PATENT APPLICATION ; CZ PATENT APPLICATION PV 8488-88.I
著者標目: Dostal, J.
Richter, O.
出版事項: Los Alamos National Lab., NM (United States); Oak Ridge National Lab., TN (United States). Funding organisation: USDOE, Washington, DC (United States)(Los Alamos National Lab., NM (United States); Oak Ridge National Lab., TN (United States). Funding organisation: USDOE, Washington, DC (United States))
出版年月日等: 1991.
出版年（W3CDTF）: 1991
数量: 2 p.
出版地（国名コード）: xr
本文の言語コード: cze
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/