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CHARACTERIZATION OF ELECTRICAL RESISTIVITY AS A FUNCTION OF TEMPERATURE IN THE MO-SI-B SYSTEM. (IS ; IS-T-1889; DE00754786)

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CHARACTERIZATION OF ELECTRICAL RESISTIVITY AS A FUNCTION OF TEMPERATURE IN THE MO-SI-B SYSTEM.

(IS ; IS-T-1889; DE00754786)

資料種別
図書
著者
BECKMAN, S.E.
出版者
Ames Laboratory(Ames Laboratory)
出版年
1999.
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
72
NDC
-
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紙

資料種別
図書
タイトル
CHARACTERIZATION OF ELECTRICAL RESISTIVITY AS A FUNCTION OF TEMPERATURE IN THE MO-SI-B SYSTEM.
著者・編者
BECKMAN, S.E.
シリーズタイトル
IS ; IS-T-1889; DE00754786
著者標目
BECKMAN, S.E.
出版事項
Ames Laboratory(Ames Laboratory)
出版年月日等
1999.
出版年（W3CDTF）
1999
数量
72
出版地（国名コード）
us