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JT-60イオンサイクロトロン高周波加熱装置用健全性診断システムの開発 (JAERI-Tech ; JAERI-TECH-97-044)

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JT-60イオンサイクロトロン高周波加熱装置用健全性診断システムの開発

(JAERI-Tech ; JAERI-TECH-97-044)

資料種別
図書
著者
横倉 賢治, 森山 伸一, 寺門 正之
出版者
日本原子力研究所
出版年
1997.
資料形態
ページ数・大きさ等
20
NDC
-
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資料種別
図書
著者・編者
横倉 賢治, 森山 伸一, 寺門 正之
シリーズタイトル
出版年月日等
1997.
出版年(W3CDTF)
1997
数量
20
出版地(国名コード)
ja