X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析 (KEK proceedings ; 2001-25) (PF研究会||PF ケンキュウカイ)

X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析

(KEK proceedings ; 2001-25) (PF研究会||PF ケンキュウカイ)

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資料種別: 図書
タイトル: X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析
著者・編者: edited by K. Sakurai and K. Hirano
シリーズタイトル: KEK proceedings ; 2001-25
PF研究会||PF ケンキュウカイ
著者標目: 桜井, 健次
平野, 馨一
高エネルギー加速器研究機構
出版年（W3CDTF）: 2002
数量: 74p;
大きさ: 30cm
並列タイトル等: X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers
出版地（国名コード）: ja
本文の言語コード: jpn
eng
対象利用者: 一般
一般注記: 表紙: "December 21-22, 2001"
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/