Calculation of sputtering yield with obliquely incident light-ions (H+, D+,, T+,, He+,) and its representation by an extended Semi-empirical formula. (NIFS ; NIFS-DATA-114)

Calculation of sputtering yield with obliquely incident light-ions (H+, D+,, T+,, He+,) and its representation by an extended Semi-empirical formula.

(NIFS ; NIFS-DATA-114)

資料種別: 図書

著者: Ono, T./Ono, M./and others

出版者: 核融合科学研究所(カクユウゴウカガクケンキュウショ)

出版年: 2012.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 26

NDC: -

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資料種別: 図書
タイトル: Calculation of sputtering yield with obliquely incident light-ions (H+, D+,, T+,, He+,) and its representation by an extended Semi-empirical formula.
著者・編者: Ono, T./Ono, M./and others
シリーズタイトル: NIFS ; NIFS-DATA-114
著者標目: Ono, T.
Ono, M.
and others
出版事項: 核融合科学研究所(カクユウゴウカガクケンキュウショ)
出版年月日等: 2012.
出版年（W3CDTF）: 2012
数量: 26
出版地（国名コード）: ja
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/