COMPARISON OF LOW-ENERGY X-RAY AND COBALT-60 IRRADIATIONS OF MOS DEVICES AS A FUNCTION OF GATE BIAS (SAND ; SAND-91-0448C)

COMPARISON OF LOW-ENERGY X-RAY AND COBALT-60 IRRADIATIONS OF MOS DEVICES AS A FUNCTION OF GATE BIAS

(SAND ; SAND-91-0448C)

著者: SHANEYFELT, M.R.// FLEETWOOD, D.M.// SCHWANK, J.R.// HUGHES, K.L. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM (USA))

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資料種別: 図書
タイトル: COMPARISON OF LOW-ENERGY X-RAY AND COBALT-60 IRRADIATIONS OF MOS DEVICES AS A FUNCTION OF GATE BIAS
著者・編者: SHANEYFELT, M.R.// FLEETWOOD, D.M.// SCHWANK, J.R.// HUGHES, K.L. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM (USA))
シリーズタイトル: SAND ; SAND-91-0448C
著者標目: SHANEYFELT, M.R.
FLEETWOOD, D.M.
SCHWANK, J.R.
HUGHES, K.L.
出版事項: Sandia National Laboratories(Sandia National Laboratories)
出版年月日等: 1991.
出版年（W3CDTF）: 1991
数量: 5
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/