BEHAVIOR AND TESTING IMPLICATIONS OF CMOS IC LOGIC GATE OPEN CIRCUITS (SAND ; SAND-91-1726C)

BEHAVIOR AND TESTING IMPLICATIONS OF CMOS IC LOGIC GATE OPEN CIRCUITS

(SAND ; SAND-91-1726C)

著者: HENDERSON, C.L.// SODEN, J.M.// HAWKINS, C.F. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM (UNITED STATES))

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資料種別: 図書
タイトル: BEHAVIOR AND TESTING IMPLICATIONS OF CMOS IC LOGIC GATE OPEN CIRCUITS
著者・編者: HENDERSON, C.L.// SODEN, J.M.// HAWKINS, C.F. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM (UNITED STATES))
シリーズタイトル: SAND ; SAND-91-1726C
著者標目: HENDERSON, C.L.
SODEN, J.M.
HAWKINS, C.F.
出版事項: Sandia National Laboratories(Sandia National Laboratories)
出版年月日等: 1991.
出版年（W3CDTF）: 1991
数量: 9
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/