EFFECT OF CU AT AL GRAIN BOUNDARIES ON ELECTROMIGRATION BEHAVIOR IN AL THIN FILMS (SAND ; SAND-91-1922C)

EFFECT OF CU AT AL GRAIN BOUNDARIES ON ELECTROMIGRATION BEHAVIOR IN AL THIN FILMS

(SAND ; SAND-91-1922C)

著者: FREAR, D.R.// MICHAEL, J.R.// ROMIG, A.D. JR.// KIM, C.// MORRIS, J.W. JR. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM (UNITED STATES))

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資料種別: 図書
タイトル: EFFECT OF CU AT AL GRAIN BOUNDARIES ON ELECTROMIGRATION BEHAVIOR IN AL THIN FILMS
著者・編者: FREAR, D.R.// MICHAEL, J.R.// ROMIG, A.D. JR.// KIM, C.// MORRIS, J.W. JR. (SANDIA NATIONAL LABS., ALBUQUERQUE, NM (UNITED STATES))
シリーズタイトル: SAND ; SAND-91-1922C
著者標目: FREAR, D.R.
MICHAEL, J.R.
ROMIG, A.D. JR.
KIM, C.
MORRIS, J.W. JR.
出版事項: Sandia National Laboratories(Sandia National Laboratories)
出版年月日等: 1991.
出版年（W3CDTF）: 1991
数量: 11
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/