MECHANISM OF ELECTROMIGRATION FAILURE IN AL THIN FILM INTERCONNECTS CONTAINING SC (UCRL ; UCRL-JC-120337)

MECHANISM OF ELECTROMIGRATION FAILURE IN AL THIN FILM INTERCONNECTS CONTAINING SC

(UCRL ; UCRL-JC-120337)

著者: KIM, CHOONG-UN// KANG, S.H.// MORRIS, J.W. JR.// GENIN, F.Y. (LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL LAB., CA (UNITED STATES))

出版者: University of California Research Laboratory(University of California Research Laboratory)

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資料種別: 図書
タイトル: MECHANISM OF ELECTROMIGRATION FAILURE IN AL THIN FILM INTERCONNECTS CONTAINING SC
著者・編者: KIM, CHOONG-UN// KANG, S.H.// MORRIS, J.W. JR.// GENIN, F.Y. (LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL LAB., CA (UNITED STATES))
シリーズタイトル: UCRL ; UCRL-JC-120337
著者標目: KIM, CHOONG-UN
KANG, S.H.
MORRIS, J.W. JR.
GENIN, F.Y.
出版事項: University of California Research Laboratory(University of California Research Laboratory)
出版年月日等: 1995.
出版年（W3CDTF）: 1995
数量: 8
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/