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目次
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Ⅰ.解説・総説(依頼)
1.蛍光X線分析法による微少量土器試料の高精度産地同定
市川慎太郎
2.CT XAFSによる価数の三次元可視化へのアプローチ:修正線形結合フィッティング
田渕雅夫
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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- ISBN
- 9784867070055
- 巻次・部編番号
- 52
- 著者・編者
- 日本分析化学会 X線分析研究懇談会編
- シリーズタイトル
- 著者標目
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2021.3.
- 出版年(W3CDTF)
- 2021