Analytical electron microscopy of leached layers on synthetic basalt glass (SAND ; SAND-87-3022C; CONF-871124-61; DE88005335)

Analytical electron microscopy of leached layers on synthetic basalt glass

(SAND ; SAND-87-3022C; CONF-871124-61; DE88005335)

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資料種別: 図書
タイトル: Analytical electron microscopy of leached layers on synthetic basalt glass
著者・編者: Murakami, T., Ewing, R.C., Bunker, B.C.
シリーズタイトル: SAND ; SAND-87-3022C; CONF-871124-61; DE88005335
著者標目: Murakami, T.
Ewing, R.C.
Bunker, B.C.
出版事項: Albuquerque, NM (USA) : Sandia National Labs., New Mexico Univ., Dept. of Geology
出版年月日等: 1987.1.
出版年（W3CDTF）: 1987
数量: 14p
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: eng
対象利用者: 一般
連携機関・データベース: 日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース
https://library-documents.jaea.go.jp/opac/opac_search/