AUTOTESTCON 2005 : Orlando, FL, 26-29 September 2005

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一般注記：: "IEEE Catalog Number: 05CH37671""Our conference theme, Technology Powering the Next Generation of Test, is reflected in our excellent technical progra...

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資料種別: 図書
ISBN: 0780391012
タイトル: AUTOTESTCON 2005 : Orlando, FL, 26-29 September 2005
著者・編者: IEEE
著者標目: Autotestcon
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955611
Institute of Electrical and Electronics Engineers
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00739948
出版事項: IEEE
出版年月日等: c2005
出版年（W3CDTF）: 2005
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 05CH37671
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Systems engineering -- Congresses
Electronic digital computers -- Testing -- Congresses
Weapons systems -- Technological innovations -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE Catalog Number: 05CH37671"
"Our conference theme, Technology Powering the Next Generation of Test, is reflected in our excellent technical program documented in these Proceedings"--p. iii
Includes bibliographical references and author index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA78481250#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA78481250 : BA78481250