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AUTOTESTCON 2005 : Orlando, FL, 26-29 September 2005

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AUTOTESTCON 2005 : Orlando, FL, 26-29 September 2005

資料種別
図書
著者
IEEE
出版者
IEEE
出版年
c2005
資料形態
ページ数・大きさ等
28 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

"IEEE Catalog Number: 05CH37671""Our conference theme, Technology Powering the Next Generation of Test, is reflected in our excellent technical progra...

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
0780391012
著者・編者
IEEE
出版事項
出版年月日等
c2005
出版年(W3CDTF)
2005
大きさ
28 cm
並列タイトル等
05CH37671