陽電子ビームによるイオンビーム照射下欠陥解析法の開発

資料に関する注記

一般注記：: 平成13年度〜平成14年度科学研究費補助金基盤研究(B)(2)研究成果報告書研究協力者: 柴田裕実, 岩井岳夫課題番号: 13480141

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資料種別: 図書
タイトル: 陽電子ビームによるイオンビーム照射下欠陥解析法の開発
タイトルよみ: ヨウデンシビームニヨルイオンビームショウシャカケッカンカイセキホウノカイハツ
著者・編者: 研究代表者伊藤泰男
著者標目: 伊藤, 泰男イトウ, ヤスオ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00815955
柴田, 裕実シバタ, ヒロミ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA11744473
岩井, 岳夫イワイ, タケオ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA12207720
出版事項: 伊藤泰男
出版年月日等: 2003.3
出版年（W3CDTF）: 2003
大きさ: 30cm
並列タイトル等: 平成13年度〜平成14年度科学研究費補助金基盤研究(B)(2)研究成果報告書
出版地（国名コード）: ja
対象利用者: 一般
一般注記: 平成13年度〜平成14年度科学研究費補助金基盤研究(B)(2)研究成果報告書
研究協力者: 柴田裕実, 岩井岳夫
課題番号: 13480141
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA74504059#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA74504059 : BA74504059