Improved infrared response technique for detecting defects and impurities in germanium and silicon p-i-n diodes 400-13

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Improved infrared response technique for detecting defects and impurities in germanium and silicon p-i-n diodes 400-13

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資料種別: 図書
タイトル: Improved infrared response technique for detecting defects and impurities in germanium and silicon p-i-n diodes
巻次・部編番号: 400-13
著者・編者: A. H. Sher
著者標目: Sher, A. H.
出版事項: U.S. G.P.O.
出版年月日等: 1975
出版年（W3CDTF）: 1975
大きさ: 26 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Germanium diodes -- Defects
Silicon diodes -- Defects
Infrared technology
LCC: QC100
TK7871.86
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references
関連情報: NBS special publication
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282271896361216
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA7325555X#entity
https://lccn.loc.gov/75001210
https://catalog.hathitrust.org/Record/006865976
掲載誌: NBS special publication
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282271896361216
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA7325555X : BA7325555X
LC control number: 75001210
https://lccn.loc.gov/75001210