Proceedings : the 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems : Boston, Massachusetts 1-3 October 2008

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資料種別: 図書
ISBN: 9780769533650
タイトル: Proceedings : the 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems : Boston, Massachusetts 1-3 October 2008
著者・編者: edited by Cristiana Bolchini ... [et al.]
著者標目: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1185577X
Bolchini, Cristiana
出版事項: IEEE Computer Society
出版年月日等: c2008
出版年（W3CDTF）: 2008
大きさ: 23 cm
並列タイトル等: The 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2008)
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Congresses
Fault-tolerant computing -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE Computer Society Order Number P3365" -- T.p. verso
Includes bibliographical references and author index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA89793186#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA89793186 : BA89793186