酸化シリコン超薄膜/シリコン界面での単一界面トラップ準位のAFMによる実空間観察/ 研究代表者長谷川幸雄

資料に関する注記

書店で探す

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
紙
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
タイトル: 酸化シリコン超薄膜/シリコン界面での単一界面トラップ準位のAFMによる実空間観察/ 研究代表者長谷川幸雄
タイトルよみ: サンカシリコンチョウハクマクシリコンカイメンデノタンイツカイメントラップジュンイノ AFM ニヨルジツクウカンカンサツ
著者標目: 長谷川, 幸雄ハセガワ, ユキオ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1357254X
三木, 一司ミキ, カズシ
江口, 豊明エグチ, トヨアキ
出版事項: 長谷川幸雄, 2002.3
出版年（W3CDTF）: 2002
大きさ: 30cm
並列タイトル等: 平成12年度〜平成13年度科学研究費補助金(萌芽的研究)研究成果報告書
文部省科学研究費補助金(萌芽的研究)研究成果報告書
出版地（国名コード）: ja
対象利用者: 一般
一般注記: 研究分担者:三木一司, 江口豊明
課題番号:12875059
研究代表者の所属:東京大学物性研究所
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA8798236X#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA8798236X : BA8798236X