Proceedings : AUTOTESTCON 93, September 20-23, 1993 : IEEE Systems Readiness Technology Conference, San Antonio Convention Center, San Antonio, Texas : soft. : case. : micro.

Proceedings : AUTOTESTCON 93, September 20-23, 1993 : IEEE Systems Readiness Technology Conference, San Antonio Convention Center, San Antonio, Texas : soft.

資料種別: 図書

著者: sponsored by: the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.]

出版者: IEEE Service Center

出版年: c1993

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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一般注記：: Includes bibliographical references and index"93CH3149-2."

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0780306465
0780306473
0780306481
タイトル: Proceedings : AUTOTESTCON 93, September 20-23, 1993 : IEEE Systems Readiness Technology Conference, San Antonio Convention Center, San Antonio, Texas
巻次・部編番号: : soft.
: case.
: micro.
著者・編者: sponsored by: the Institute of Electrical and Electronics Engineers ... [et al.]
著者標目: Autotestcon
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955611
Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版事項: IEEE Service Center
出版年月日等: c1993
出版年（W3CDTF）: 1993
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 1993 IEEE AUTOTESTCON
93CH31492
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Automatic checkout equipment -- Congresses
Electronics in aeronatics -- Congresses
Maintainabillty (Engineering) -- Congresses
LCC: TK7895.A8
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and index
"93CH3149-2."
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA21100426#entity
https://lccn.loc.gov/92053845
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA21100426 : BA21100426
LC control number: 92053845
https://lccn.loc.gov/92053845