Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing, August 9-10, 1993, San Jose, California

著者: edited by R. Rajsuman ; sponsored by IEEE Computer Society, Technical Committee on Test Technology

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資料種別: 図書
ISBN: 0818641509
タイトル: Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing, August 9-10, 1993, San Jose, California
著者・編者: edited by R. Rajsuman ; sponsored by IEEE Computer Society, Technical Committee on Test Technology
著者標目: IEEE International Workshop on Memory Testing
Rajsuman, R.
出版事項: IEEE Computer Society Press
出版年月日等: c1993
出版年（W3CDTF）: 1993
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 93TH05546
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
LCC: IN PROCESS
対象利用者: 一般
一般注記: IEEE catalog no. 93TH0554-6
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA21415256#entity
https://lccn.loc.gov/93077854
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA21415256 : BA21415256
LC control number: 93077854
https://lccn.loc.gov/93077854