Automated optical inspection for industry: theory, technology, and applications II : 16-19 September, 1998, Beijing, China

資料種別: 図書

著者: Shenghua Ye, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering, COEMA--China Optics & Optoelectronic Manufacturers Association, COS--Chinese Optical Society ; cooperating organizations, National Natural Science Foundation of China ... [et al.]

出版者: SPIE

出版年: c1998

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 0819430196
タイトル: Automated optical inspection for industry: theory, technology, and applications II : 16-19 September, 1998, Beijing, China
著者・編者: Shenghua Ye, chair/editor ; sponsored by SPIE--the International Society for Optical Engineering, COEMA--China Optics & Optoelectronic Manufacturers Association, COS--Chinese Optical Society ; cooperating organizations, National Natural Science Foundation of China ... [et al.]
著者標目: Yeh, Sheng-hua
https://ci.nii.ac.jp/author/DA12490461
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00848546
Chinese Optical Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA04252785
Chinese Optics & Optoelectronic Manufacturers Association
出版事項: SPIE
出版年月日等: c1998
出版年（W3CDTF）: 1998
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Engineering inspection -- Automation -- Congresses
Quality control -- Optical methods -- Automation -- Congresses
Optical detectors -- Industrial applications -- Congresses
Optical measurements -- Congresses
LCC: TS156.2
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and author index
関連情報: Proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269217551104
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA45606215#entity
https://lccn.loc.gov/99159856
掲載誌: Proceedings
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269217551104
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA45606215 : BA45606215
LC control number: 99159856
https://lccn.loc.gov/99159856