Digest of papers : 1996 IEEE International Workshop on IDDQ Testing, October 24-25, 1996, Washington, D.C.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 0818676558
• タイトル: Digest of papers : 1996 IEEE International Workshop on IDDQ Testing, October 24-25, 1996, Washington, D.C.
• 著者・編者: edited by Carol Tong, Anura Jayasumana ; sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology
• 著者標目: IEEE International Workshop on IDDQ Testing; https://ci.nii.ac.jp/author/DA12188579; Tong, Carol; https://ci.nii.ac.jp/author/DA12188590; Jayasumana, Anura P.; https://ci.nii.ac.jp/author/DA08817284; IEEE Computer Society. Technical Committee on Test Technology; https://ci.nii.ac.jp/author/DA10231349
• 出版事項: IEEE Computer Society Press
• 出版年月日等: c1996
• 出版年（W3CDTF）: 1996
• 大きさ: 28 cm
• 並列タイトル等: 1996 IEEE International Workshop on IDDQ Testing; IEEE International Workshop on IDDQ Testing; IDDQ 96; 96TB100067
• 出版地（国名コード）: us
• 本文の言語コード: en
• 件名標目: Iddq testing -- Congresses; Metal oxide semiconductors, Complementary -- Testing -- Congresses
• LCC: TK7871.99.M44
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: "IEEE Computer Society Press order number PR07655"--T.p. verso; "IEEE order plan catalog number 96TB100067"--T.p. verso; Includes bibliographical references
• 関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA42650538#entity; https://lccn.loc.gov/96077320
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
• 提供元機関・データベース: CiNii Books; https://ci.nii.ac.jp/books
• NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA42650538 : BA42650538
• LC control number: 96077320; https://lccn.loc.gov/96077320