Measurement and modeling of silicon heterostructure devices

資料に関する注記

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資料種別: 図書
ISBN: 9781420066920
1420066927
タイトル: Measurement and modeling of silicon heterostructure devices
著者・編者: edited by John D. Cressler
著者標目: Cressler, John D.
出版事項: CRC Press
出版年月日等: c2008
出版年（W3CDTF）: 2008
大きさ: 27 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Bipolar transistors -- Mathematical models
Bipolar transistors
Heterostructures
Integrated circuits -- Design and construction
LCC: TK7871.96.B55
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and index
HTTP:URL=http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0811/2007030737-d.html Information=Publisher description
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA85271473#entity
https://lccn.loc.gov/2007030737
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA85271473 : BA85271473
LC control number: 2007030737
https://lccn.loc.gov/2007030737