日経エレクトロニクス・ブックス

• 資料種別: 図書
• タイトル: 日経エレクトロニクス・ブックス
• タイトルよみ: ニッケイ エレクトロニクス ブックス
• 出版事項: 日経BP社
• 並列タイトル等: Nikkei electronics books; 日経エレクトロニクスブックス; NE books
• 出版地（国名コード）: ja
• 本文の言語コード: ja
• 対象利用者: 一般
• 関連情報: 製品開発競争を制する特許の勘所、著作権の新常識; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000793667957504; 世界の環境規制とPbフリー・ハンダ技術; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794255979136; 21世紀を支えるディジタル記録技術最前線; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794299822336; デジタル変調とデータ圧縮 2005 : 携帯・モバイルへ展開するデジタル・テレビ; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794313930112; ワイヤレス給電2010 : 非接触充電と無線電力伝送のすべて; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794423914368; 強い基本特許 : 有効なとり方 : 係争の争点; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794480407680; IEEE 1394ディジタル時代の高速インタフェース; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794574520832; マイクロプロセサ周辺LSI; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000794660893824; センサ; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000795879377152; 電子書籍のすべて : iPad, Kindle, Reader…ビジネスから技術まで; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000795939710080; 電子回路設計アイディア集; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796567405824; 欠陥ゼロのソフトウエア開発 : 最新技法と欧米の実践事例; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796675337088; 人工知能; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796683276800; 超高密度外部記憶装置の新展開; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796714187520; マイクロコンピュータ技術のすべて; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796899865216; SSD2010 : solid state drive; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797089598208; 32ビット・マイクロプロセサ; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797339484032; エレクトロニクス・イノベーションズ; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797388332672; データ圧縮とディジタル変調; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797544814464; 2次電池の技術と応用 : 早稲田大学材料技術研究所オープンセミナー; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797808634624; 次世代インタフェース : USB 3.0からHDMI 1.4,TransferJet,Bluetooth 3.0まで; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000797940680192; 汎用大型コンピュータ; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282268995598720; 新世代マイクロプロセサ : RISC,CISC,TRON; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282270447809280; 解体新書 : 次世代光ディスク : 「Blu-ray Disc」と「AOD」のすべて; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282270461019392; エレクトロニクス50年史と21世紀への展望; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282270576231424; 高速デジタルシステム設計法詳説 : ASIC/プリント基板の設計とシステムデバッグ; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282271555570944; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282271862196096; 日本語処理; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282273120720896; プロのノウハウ : 現場のトラブルを防ぐ開発技術の勘所; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282273147979904; https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282273339045632
• 関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BN0383450X#entity
• 連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
• 提供元機関・データベース: CiNii Books; https://ci.nii.ac.jp/books
• NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BN0383450X : BN0383450X