Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan : pbk

Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan : pbk

資料種別: 図書

著者: edited by Hiroshi Yamada-Kaneta, Akira Sakai

出版者: Trans Tech Pubs., Ltd.

出版年: c2012

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 24 cm

NDC: -

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一般注記：: Includes bibliographical references and indexes

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9783037854426
タイトル: Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan
巻次・部編番号: : pbk
著者・編者: edited by Hiroshi Yamada-Kaneta, Akira Sakai
著者標目: Yamada-Kaneta, Hiroshi
Sakai, Akira
International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
出版事項: Trans Tech Pubs., Ltd.
出版年月日等: c2012
出版年（W3CDTF）: 2012
大きさ: 24 cm
出版地（国名コード）: sz
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographical references and indexes
関連情報: Materials science forum
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282271136849280
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB20186831#entity
掲載誌: Materials science forum
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282271136849280
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB20186831 : BB20186831