2001 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report, Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 15-18, 2001 :softbound

著者: sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

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一般注記：: "IEEE Catalog No. 01TH8580"--verso of T.p.Includes bibliographical references

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資料種別: 図書
ISBN: 0780371674
タイトル: 2001 IEEE International Integrated Reliability Workshop final report, Stanford Sierra Camp, Lake Tahoe, California, October 15-18, 2001
巻次・部編番号: :softbound
著者・編者: sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society
著者標目: International Integrated Reliability Workshop
https://ci.nii.ac.jp/author/DA10253986
IEEE Electron Devices Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01257512
IEEE Reliability Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03215295
出版事項: IEEE Operations Center
出版年月日等: c2001
出版年（W3CDTF）: 2001
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 01TH8580
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Reliability Congresses
Integrated circuits -- Wafer-scale integration -- Reliability Congresses
LCC: TK7874
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE Catalog No. 01TH8580"--verso of T.p.
Includes bibliographical references
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA66087309#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA66087309 : BA66087309