Proceedings : International Test Conference 1999 : soft : case : microfiche

Proceedings : International Test Conference 1999 : soft

著者: [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section]

資料に関する注記

一般注記：: "September 28-30, 1999, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA"--Cover"IEEE Catalog Number 99CH37034"--T.p. versoIncludes bibliog...

書店で探す

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
紙
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
ISBN: 0780357531
078035754X
0780357558
タイトル: Proceedings : International Test Conference 1999
巻次・部編番号: : soft
: case
: microfiche
著者・編者: [sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section]
著者標目: International Test Conference
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0261156X
IEEE Computer Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00479199
出版事項: International Test Conference
出版年月日等: c1999
出版年（W3CDTF）: 1999
大きさ: 29 cm
並列タイトル等: ITC : International Test Conference 1999
ITC : International Test Conference 1999 : proceedings
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Testing -- Congresses
Automatic checkout equipment -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: "September 28-30, 1999, New Atlantic City Convention Center, Atlantic City, NJ, USA"--Cover
"IEEE Catalog Number 99CH37034"--T.p. verso
Includes bibliographies and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA45342951#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA45342951 : BA45342951