論理とテスト 4 | NDLサーチ | 国立国会図書館

論理とテスト 4

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資料種別: 図書
ISBN: 4000101846
タイトル: 論理とテスト
タイトルよみ: ロンリトテスト
巻次・部編番号: 4
著者・編者: 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
著者標目: 樹下, 行三キノシタ, コウゾウ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0007128X
浅田, 邦博アサダ, クニヒロ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA06950931
唐津, 修カラツ, オサム
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08250748
出版事項: 岩波書店
出版年月日等: 1985
1985.5
出版年（W3CDTF）: 1985
大きさ: 22cm
出版地（国名コード）: ja
本文の言語コード: ja
件名標目: 集積回路
NDC: 549.92
NDC8版: 549
549.08
NDLC: ND351
ND386
対象利用者: 一般
一般注記: 参考書: p303-305
関連情報: 岩波講座マイクロエレクトロニクス
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269048263296
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BN00059257#entity
https://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/12678597
掲載誌: 岩波講座マイクロエレクトロニクス
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130282269048263296
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BN00059257 : BN00059257