Proceedings : 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : VTS 2009 : 3-7 May 2009, Santa Cruz, CA, USA

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資料種別: 図書
ISBN: 9780769535982
タイトル: Proceedings : 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : VTS 2009 : 3-7 May 2009, Santa Cruz, CA, USA
著者標目: IEEE VLSI Test Symposium
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08735769
出版事項: IEEE Computer Society
出版年月日等: c2009
出版年（W3CDTF）: 2009
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses
LCC: TK7874
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE Computer Society Order Number P3598" -- T.p. verso
Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA90824571#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA90824571 : BA90824571