Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California

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資料種別: 図書
ISBN: 0769521347
タイトル: Proceedings, 22nd IEEE VLSI Test Symposium : 25-29 April 2004, Napa Valley, California
著者・編者: sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Council
著者標目: IEEE VLSI Test Symposium
https://ci.nii.ac.jp/author/DA08735769
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1250352X
出版事項: IEEE Computer Society
出版年月日等: c2004
出版年（W3CDTF）: 2004
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: VTS04
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: IEEE Computer Society order number: PR2134
Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA67539723#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA67539723 : BA67539723