図書

Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A.

図書を表すアイコン

Characterization of defects in materials : symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A.

資料種別
図書
著者
editors, Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair
出版者
Materials Research Society
出版年
c1987
資料形態
ページ数・大きさ等
24 cm
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Includes bibliographies

書店で探す

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • CiNii Research

    検索サービス
    連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISBN
0931837472
著者・編者
editors, Richard W. Siegel, Julia R. Weertman, Robert Sinclair
出版年月日等
c1987
出版年(W3CDTF)
1987
大きさ
24 cm
出版地(国名コード)
us