Pattern recognition

資料に関する注記

一般注記：: Facsim. reprint. Originally published: [College Park, Md.] : [Computer Science Center, University of Maryland], [1973]. (Technical report ; TR-264))"A...

書店で探す

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
紙
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
タイトル: Pattern recognition
著者・編者: [by Laveen N. Kanal, Ashok K. Agrawala]
著者標目: Kanal, Laveen N.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00400563
Agrawala, Ashok K.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0152829X
出版事項: National Technical Information Service, U.S. Dept. of Commerce
出版年月日等: [1973]
出版年（W3CDTF）: 1973
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: Facsim. reprint. Originally published: [College Park, Md.] : [Computer Science Center, University of Maryland], [1973]. (Technical report ; TR-264))
"AD-778 940"
"Prefared for Air Force Office of Scientific Research"
"October 1973"
"AFOSR 71-1982"--Original t.p
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB0227771X#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB0227771X : BB0227771X