Shallow Impurity Centers in Semiconductors : proceedings of the Second International conference on Shallow Impurity Centers/Fourth Trieste IUPAP-ICTP Semiconductor Symposium International Centre for Theoretical Physics, Trieste, Italy 28 July-1 August 1986

Shallow Impurity Centers in Semiconductors : proceedings of the Second International conference on Shallow Impurity Centers/Fourth Trieste IUPAP-ICTP Semiconductor Symposium International Centre for Theoretical Physics, Trieste, Italy 28 July-1 August 1986

資料種別: 図書

著者: editors, A. Baldereschi, R. Resta

出版者: -

出版年: 1987

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 27 cm

NDC: -

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資料種別: 図書
ISBN: 0444870873
タイトル: Shallow Impurity Centers in Semiconductors : proceedings of the Second International conference on Shallow Impurity Centers/Fourth Trieste IUPAP-ICTP Semiconductor Symposium International Centre for Theoretical Physics, Trieste, Italy 28 July-1 August 1986
著者・編者: editors, A. Baldereschi, R. Resta
著者標目: International Conference on Shallow Impurity Centers
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02375853
Trieste ICTP-IUPAP Semiconductor Symposium
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01822912
Baldereschi, A.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02375922
Resta, R.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02375955
出版年月日等: 1987
出版年（W3CDTF）: 1987
大きさ: 27 cm
出版地（国名コード）: ne
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA03945699#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA03945699 : BA03945699